Spektrometry rentgenowskie XRF

Spektrometr XRF metali – zastosowanie oraz działanie

Spektrometr metali to nowoczesne, mobilne urządzenie analityczne wykorzystywane do szybkiej identyfikacji składu pierwiastkowego materiałów bez konieczności pobierania próbki do dalszej analizy laboratoryjnej. Znajduje zastosowanie m.in. w przemyśle metalurgicznym, recyklingu, kontroli jakości, identyfikacji materiałowej PMI oraz badaniach metali szlachetnych. W przypadku urządzeń XRF testy opierają się na fluorescencji rentgenowskiej, która pozwala określić zawartość poszczególnych pierwiastków w badanym materiale. Dzięki kompaktowej konstrukcji, wbudowanemu wyświetlaczowi oraz zasilaniu bateryjnemu pozwalają na pracę w terenie, halach produkcyjnych bądź trudno dostępnych miejscach. Spektrometry XRF umożliwiają uzyskanie wyników bezpośrednio w miejscu prowadzenia kontroli, co ułatwia szybką weryfikację składu materiałowego.

Technologia XRF w analizie metali

Spektrometria XRF polega na analizie charakterystycznego promieniowania emitowanego przez materiał po wzbudzeniu go promieniowaniem rentgenowskim. Jest to metoda analityczna pozwalająca na bezpośrednie określenie składu pierwiastkowego badanego obiektu. Na tej podstawie spektrometr rentgenowski XRF określa, jakie pierwiastki wchodzą w skład badanego stopu oraz w jakich proporcjach występują. Technologia ta stanowi podstawę działania urządzeń z serii SciAps X, dostępnych w DPIdea. Spektrometry rentgenowskie XRF pozwalają analizować różne grupy materiałów, a właściwa konfiguracja urządzenia umożliwia dopasowanie pomiaru do specyfiki badanej próbki. Sprawdź dostępne modele i wybierz rozwiązanie odpowiednie do planowanych zastosowań.

Rozmaite rodzaje spektrometrów – specyfikacja

W ofercie DPIdea dostępne są nowoczesne spektrometry XRF oraz spektrometry optyczne, dostosowane do różnych zastosowań przemysłowych oraz laboratoryjnych. Seria SciAps X to jedne z najlżejszych i najszybszych analizatorów rentgenowskich na rynku, zapewniające wysoką precyzję pomiarów. Urządzenia wyposażono w wydajne baterie, system Android umożliwiający wygodne zarządzanie danymi oraz zintegrowaną kamerę do podglądu próbki, co znacząco usprawnia pracę w terenie i zakładach produkcyjnych. Z kolei optyczny spektroskop iskrowy ferro.lyte® doskonale sprawdza się podczas kontroli jakości, identyfikacji materiałowej (PMI) oraz inspekcji terenowych.

Zapraszamy do zapoznania się z pełną ofertą.

Seria premium Ważące 1,25 kg X-550 i X-505 to najlżejsze i najmniejsze analizatory jakie kiedykolwiek stworzono. Wąska, smukła obudowa zapewnia dostęp do najtrudniejszych lokalizacji. Wbudowany wyświetlacz o przekątnej 2,7 cala.

Seria podstawowa Całkowicie nowe X-200 i X-50 oferują najlepsze w swojej klasie osiągi analityczne. Teraz z ulepszonym odprowadzaniem ciepła, zmniejszoną wagą i nowym interfejsem użytkownika. Wbudowany wyświetlacz o przekątnej 3,5 cala.

Modele Spektrometrów SciAps XRF

X-550	X-505	X-200	X-50
Lampa X-Ray
40 kV, 200 uA anoda Rh i 10 kV, 500 uA dla stopów, 50 kV, 200 uA anoda Au dla większości innych aplikacji.	40 kV, 200 uA anoda Rh i 10 kV, 200 uA dla stopów, 50 kV, 200 uA anoda Au dla większości innych aplikacji.	6-40kV, 200uA anoda Rh do testowania stopów, 6-50kV, 200uA anoda Au do większości innych aplikacji.	40kv, 100uA anoda Rh do badania stopów, 50kv, 100uA anoda Au do większości innych aplikacji.
Detektor, Ocena
25 mm2 SDD, 140 eV at 5.95 Mn K-alpha line, at 90+% live time, 250k cps.	25 mm2 SDD, 140 eV at 5.95 Mn K-alpha line, at 90+% live time, 250k cps.	20mm² SSD, 135eV at 5.95Mn K-alpha line, at 90+% live time, 250k cps.	6 mm2 PIN Diode, Standard DPP, at 50% live time, 15k cps.
Stopy
Pomiar Mg w aluminium z dokładnością 0.3%, w ciągu 2 sekund, pomiar Si w stalach z dokładnością, w ciągu 6 sekund, P i S w stalach nierdzewnych 3 razy szybciej od X-505 dla danego stężenia.	Pomiar Mg w aluminium z dokładnością 0.3%, w ciągu 7 sekund, pomiar Si w stalach z dokładnością, w ciągu 15 sekund, P i S.	Najczęściej stosowany w sortowniach aluminium. Pomiar 0,8% Mg przy użyciu drugiej wiązki w czasie 8-10 sekund. Pomiar Al, Si, S i P w czasie 5-6 sekund. Poziom dokładności 0,3% - 0,5% Mg w czasie 15-20 sekund w stopach 6063, 356 i 3004.	Podstawowe sortowanie stali nierdzewnych, stalach wysokotemperaturowych i czerwonych. Sortowanie stopów aluminium za pomocą MLC, 2000 i 7000.
Geochem, gleba
Najlepsze osiągi na metalach ziem rzadkich, RCRA oraz najważniejszych zanieczyszczeń metali.	Analizuje pierwiastki o niskiej liczbie atomowej takie jak: Mg, Al, Si, P, S, Ca i K.	Oferuje porównywalną dokładność, granice wykrywalności i zakres elementów w porównaniu do innych marek XRF, ale w lżejszym wydaniu i niższej cenie.	Oferuje dużą szybkość i precyzję oraz doskonały limit detekcji w wykrywalności w metalach przejściowych i metalach ciężkich.

Dostępne aplikacjie i wykrywalne pierwiastki

Możliwość skalibrowania dodatkowych pierwiastków na życzenie użytkownika!